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TS600T-PM-Y 偏光(guang)顯(xian)微鏡(jing)冷熱臺冷熱臺廣泛應用(yong)于半導(dao)體(ti)、高(gao)分子聚(ju)合物、液態晶(jing)體(ti)、冶(ye)金等各種研究領域。冷熱臺可以(yi)跟光(guang)學(xue)顯(xian)微鏡(jing)、共聚(ju)焦顯(xian)微鏡(jing)、激光(guang)拉曼(man)、傅(fu)里(li)葉紅外(wai)光(guang)譜儀、X射線衍射儀等設備聯(lian)用(yong)，用(yong)于材料在變溫(wen)條件下的研究和表征(zheng)。

簡(jian)要描述： TS-PM-Y 系列冷(leng)熱(re)臺(tai)使(shi)用(yong)非(fei)磁性材料設計TS系列冷(leng)熱(re)臺(tai)（-196~1500℃）：包括各種型號的冷(leng)臺(tai)、中(zhong)溫(wen)熱(re)臺(tai)、高(gao)溫(wen)熱(re)臺(tai)、溫(wen)控探針臺(tai)及定制方(fang)案(an)；可使(shi)用(yong)電極探針，也可以(yi)使(shi)用(yong)定制管殼對樣(yang)品(pin)進行(xing)封(feng)裝

TS-PM-Y溫(wen)控(kong)(kong)(kong)探針(zhen)(zhen)冷熱(re)臺可(ke)獨立控(kong)(kong)(kong)溫(wen)，也可(ke)通過上位(wei)機軟件控(kong)(kong)(kong)制(zhi)，溫(wen)度(du)范圍廣，120℃/400℃/600℃/800℃/1000℃可(ke)選(xuan)，可(ke)選(xuan)擇透射光或反射光觀(guan)察 探針(zhen)(zhen)種類豐富(fu)，可(ke)根據(ju)用(yong)戶需(xu)求進(jin)行(xing)定制(zhi) 軟件拓展(zhan)性強(qiang)，可(ke)提供LABVIEW等語言的(de)SDK。

TS600-EM-Y 橢偏(pian)儀冷(leng)熱(re)臺配(pei)合偏(pian)光顯微鏡使用，樣(yang)品位置可XY軸移動，該型號體積小巧輕薄，結構緊湊。 配(pei)套：A2101（吸附筆(bi)）、A2102（石英(ying)片）、A2510（無(wu)痕雙面膠(jiao)）；

TS300N-SV-Y 聲速(su)測(ce)(ce)量(liang)冷熱臺可以用(yong)于搭配(pei)聲速(su)測(ce)(ce)量(liang)設(she)備，進行聲速(su)的(de)變溫測(ce)(ce)量(liang)，實現(xian)變溫范圍-80到200℃，同時(shi)該型號可衍生用(yong)于光譜儀積分球(qiu)等光學高低溫測(ce)(ce)試(shi)場合；

簡要(yao)描述： TS400-R-Y 溫(wen)(wen)控(kong)探針系(xi)列專門針對(dui)材料電學測試(shi)而設計的一款(kuan)產(chan)品(pin)，溫(wen)(wen)度(du)范(fan)圍為-196~400℃，全程溫(wen)(wen)度(du)穩定性控(kong)制0.5℃以內(nei)，采(cai)用四探針法(fa)可表征(zheng)材料升溫(wen)(wen)和降溫(wen)(wen)階段電阻(zu)率隨溫(wen)(wen)度(du)變化的特征(zheng)。